Fakultät für Mathematik und Naturwissenschaften

Röntgendiffraktometer

Anton Paar Hochtemperaturkammer HTK-900 eingebaut im X'Pert Pro Diffraktometer

Mit dem Röntgendiffraktometer ist eine zerstörungsfreie Strukturanalyse von kristallinen Materialien möglich. Mögliche Untersuchungen sind:

  • Bestimmung von Phasen(anteilen)
  • Kristallstrukturanalyse
  • Korngrößenbestimmung
  • Bestimmung von Texturierungen
  • Eigenspannungsanalyse
  • Dünnschichtanalyse: Schichtdickenbestimmung, Rauheit, Dichte
  • Röntgenfluoreszenzanalyse

Philips X'Pert Pro MPD

  • Röntgenquellen: Cu, Cr und Mo
  • Divergente oder parallele, monochromatische Primäroptik
  • Detektoren: Proportionalzähler und X'Celerator Halbleiterstreifendetektor
  • Software: X'Pert Highscore Plus, X'Pert Stress, X'Pert Texture, X'Pert Reflectivity
  • Probentische:
    • xyz-phi-psi-Tisch
    • sample-spinner
    • Tieftemperaturkammer (77 bis 723 Kelvin)
    • Hochtemperaturkammer (Raumtemperatur bis 1173 K)
    • Eulerwiege
    • capillary-spinner
    • Doppel-Magnetron-Sputterkammer

zuletzt bearbeitet am: 23.09.2021

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